Thématiques
- Mécanismes élémentaires de déformation plastique, de transformation de phase et de rupture aux petites échelles
- Caractérisation par microscopie électronique en transmission (MET) quantitative ex-situ et in-situ des défauts dans les matériaux cristallins et amorphes
- Tests mécaniques miniaturisés
- Effets de taille intrinsèques et extrinsèques sur les propriétés mécaniques
Savoir-faire
- Tests nanomécaniques in-situ en MET, MET corrigée à haute résolution, faisceau convergent, faisceau faible, précession électronique, cartographie d’orientation et de champs de déformation en MET, tomographie électronique, MET analytique
- Microscopes: FEI Titan QU-Ant-EM, FEI Titan X-Ant-EM, FEI Tecnai G2, FEI Osiris, Jeol 3000 F et 2010 F, Philips CM20 and CM30, FIB/SEM FEI Helios Nanolab
- Traitement et simulation des données MET (JEMS, GPA, electron diffraction, Digital Micrograph, CrystalKit, etc)
